BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀

簡要描述：BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測系統(tǒng)。

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2024-07-26
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BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向動態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS，可以準(zhǔn)確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。

BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀

基本性能指標(biāo)

粒徑檢測

原理	動態(tài)光散射技術(shù)
粒徑范圍	0.3 nm – 10 μm
樣品量	40 μL – 1 mL
檢測角度	173 ° + 12°
分析算法	Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta電位測試

原理	相位分析光散射技術(shù)
檢測角度	12°
Zeta范圍	無實際限制
電泳遷移率范圍	＞±20 μm.cm/V.s
電導(dǎo)率范圍	0 - 260 mS/cm
Zeta測試粒徑范圍	2 nm – 120 μm

分子量測試

分子量范圍

342 Da – 2 x 10⁷ Da

微流變測試

測試能力	均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span>

粘度和折光率測試

粘度范圍	0.01 cp – 100 cp
折光率范圍	1.3-1.6

趨勢測試

時間和溫度

系統(tǒng)參數(shù)

溫控范圍	-15°C - 110°C，精度±0.1°C
冷凝控制	干燥空氣或者氮氣
標(biāo)準(zhǔn)激光光源	50 mW 高性能固體激光器， 671 nm
相關(guān)器	最快25 ns采樣，最多 4000通道，10¹¹動態(tài)線性范圍
檢測器	APD （高性能雪崩光電二極管）
光強(qiáng)控制	0.0001% - 100%，手動或者自動